介質(zhì)對雷達物位計測量影響有多大？

雷達物位計作為一種精密儀表，一般來說它的測量精度是非常高的。但它也會受到一些因素的影響，導致出現(xiàn)一些問題，這其中就包括介質(zhì)的影響。了解介質(zhì)對雷達物位計的影響，對雷達物位計的選型，起到至關(guān)重要的作用。

雷達物位計的測量原理是，雷達物位計天線發(fā)射較窄的微波脈沖，經(jīng)天線向下傳輸。微波接觸到被測介質(zhì)表面后被反射回來再次被天線系統(tǒng)接收，將信號傳輸給電子線路部分自動轉(zhuǎn)換成物位信號。因為微波傳播速度極快，電磁波到達目標并經(jīng)反射返回接收器這一來回所用的時間幾乎是瞬間的。

對雷達物位計稍微有一點了解的用戶，肯定經(jīng)常聽到“回波信號強度”這個詞，雷達物位計發(fā)出的電磁波通過被測料面的反射，得到一個回波信號。而回波信號強度是受被測料面狀態(tài)的影響的。例如被測介質(zhì)介電常數(shù)或硬度，如果被測介質(zhì)介電常數(shù)和硬度與電磁波反射回波強度成正比，介電常數(shù)和硬度越大，反射回波就會越強。如果被測介質(zhì)料面堆角，而雷達物位計測量位置的物料堆角正好處于角落或高位，都會影響測量的準確性。還有被測料面的穩(wěn)定性，顆粒度和疏松度，被測介質(zhì)的濕度等等都會有所影響。另外介質(zhì)的溫度壓力，是否有腐蝕性。是否含有蒸汽或粉塵，環(huán)境中揮發(fā)物質(zhì)的結(jié)晶問題或粉塵的粘附問題等等，都會造成電磁波到達被測料面時出現(xiàn)大的衰減，從而影響雷達物位計測量準確性。

正因為介質(zhì)對雷達物位計的影響很大，所以在購買雷達物位計之前，要詳細的提供自己測量的介質(zhì)信息，工況信息。需要告訴廠家你說測量的介質(zhì)是什么，是否有腐蝕性，是否有粉塵，結(jié)晶，被測物質(zhì)的較低溫、較高溫，承受壓力的大小，以及測量的較大距離，和對盲區(qū)的要求，還要知道需不需要防爆等等。

我們一再強調(diào)雷達物位計是精密儀器，所以做好每個環(huán)節(jié)的細節(jié)，才可以發(fā)揮它的較大價值。介質(zhì)確實對雷達物位計的測量影響很大，但也不是**因素，還有其它因素也會對測量結(jié)果產(chǎn)生影響，這里就要具體情況具體分析了。希望本文可以給一些在這方面有疑問的用戶，一些幫助。

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